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    XRD平板探測器在使用時會遇到哪些問題

    更新時間:2023-12-12點(diǎn)擊次數(shù):2264
      XRD(X射線衍射)是一種常用的材料表征技術(shù),用于分析材料的晶體結(jié)構(gòu)和晶體質(zhì)量。然而在使用過程中,可能會出現(xiàn)一些故障。樣品制備就是其中一個關(guān)鍵的步驟,對此有以下一些要求:
      1. 對于金屬樣品如塊狀、板狀、圓拄狀,需要磨成一個平面,面積不小于10X10毫米。如果面積太小可以用幾塊粘貼一起。此外,制樣時需要注意樣品的面積、表面潔凈度與表面平整程度。
      2. 在研磨過程中,需要不斷過篩,分出已經(jīng)細(xì)化的顆粒。對于軟而不便于研磨的物質(zhì),可以采用液氮或干冰使其變脆,以便于研磨。
      3. 有些樣品需要用整形銼刀制得金屬細(xì)屑,此時需要對制得的挫屑進(jìn)行退火處理消除銼刀帶來的點(diǎn)陣應(yīng)力。
      在XRD實(shí)驗中,使用Jade軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)分析是一種常見的做法。然而,XRD主要適用于無機(jī)物,對于有機(jī)物的應(yīng)用較少。此外,XRD研究的應(yīng)該是晶粒、晶體的問題,與晶體結(jié)構(gòu)關(guān)聯(lián)的問題,而不是樣品顆粒的大小問題。樣品顆粒的大小要用別的方法測定,例如光散射、X射線散射、電鏡等。
      在日常維護(hù)保養(yǎng)中,除了對故障進(jìn)行處理外,還需要定期進(jìn)行設(shè)備的檢查和維護(hù),以確保設(shè)備的正常運(yùn)行。同時,也需要注意設(shè)備的使用環(huán)境,避免在過于潮濕或者溫度過高的環(huán)境中使用設(shè)備,以防設(shè)備受損。最后,當(dāng)設(shè)備出現(xiàn)故障時,應(yīng)立即停止使用,并聯(lián)系專業(yè)的維修人員進(jìn)行檢查和維修,以免對設(shè)備造成進(jìn)一步的損害。
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